蔡司VASTXXT探头扫描过程测力演示

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阅读本篇文章前，可以参考

“扫描式传感器，与众不同的触发原理介绍”

"蔡司VAST探头扫描过程测力演示"

VAST XXT是常见的另一款接触扫描传感器。下面我们会通过实验得出相同的结论： VAST XXT传感器在扫描过程中的测力也是恒定的

• VAST XXT传感器如下图所示：
  

• 在这个实验中，我们会使用蔡司硬件同事其中一个专业的调试检测设备：测力计。有了这个设备，就可以精确的查看到扫描时的测力，以便进行分析讨论

实验方法：将测力计水平摆放，使用主探针测量平面，分别使用了标准（默认），敏感和粗糙三种探测行为。在Calypso软件中，元素检测行为的设置方法：资源 - 元素设置编辑-探测-被动传感器的探测行为

从下面的视频里可以看到，

1 设置不用探测行为，标准，还是敏感，还是粗糙的，扫描的接触力是不相同的。

2 在扫描测量平面过程中，测力计的测力是恒定的。从而能和工件表面保持均匀贴合状态获取测量点，得到稳定可靠的数据。

来源：虞军博客（微信/QQ号：18136545850/924002502），转载请保留出处和链接！

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